電子芯片是電子產(chǎn)品的核心，所有的控制和操作都集中在芯片上。一般來說，芯片包含在產(chǎn)品外殼中，很少受到灰塵的影響，但不排除一些例外情況，如外殼損壞造成的灰塵侵入，會影響電子芯片的正常運(yùn)行。通過專業(yè)沙塵試驗(yàn)箱，可以模擬各種灰塵侵入的場景。通過對電子芯片進(jìn)行灰塵試驗(yàn)，可以很好地找到電子芯片的設(shè)計和保護(hù)缺陷。

　　電子芯片的防塵試驗(yàn)主要研究不同顆粒大小的灰塵顆粒對電子芯片的影響。試驗(yàn)的目的之一是檢測電子產(chǎn)品外殼對內(nèi)部芯片和其他元件的保護(hù)。二是了解灰塵侵入對芯片的影響，以及是否會短路起火。通過灰塵試驗(yàn)箱創(chuàng)造不同的溫度和濕度環(huán)境，使用不同的灰塵濃度測試電子芯片。

 

　　專業(yè)沙塵試驗(yàn)箱對電子芯片進(jìn)行防塵試驗(yàn)時，一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的灰塵作為試驗(yàn)源。電子芯片要求的防塵等級一般為IP5或IP6，旨在完全保護(hù)灰塵的進(jìn)入，或灰塵進(jìn)入后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般來說，電子芯片的防塵試驗(yàn)是通過IP6等級的保護(hù)進(jìn)行的，因?yàn)榛覊m堆積過多會對電子芯片造成損壞，所以完全防塵是一種很好的保護(hù)方法。